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光電流測試

產(chǎn)品簡介
光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、光電器件、太陽能電池等領(lǐng)域。

產(chǎn)品型號：S-LBIC

更新時間：2025-06-24

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問量：1941

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統(tǒng)

顯微缺陷膜厚半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統(tǒng) 瞬態(tài)吸收系統(tǒng) 太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統(tǒng) 顯微光電流成像系統(tǒng) 探測器光響應(yīng)度系統(tǒng) 光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強試劑顯微熒光系統(tǒng) 組合熒光系統(tǒng) 鏡頭透過率測試系統(tǒng) 漫反射率測試系統(tǒng) 反射、吸收率系統(tǒng) 成像亮度計標(biāo)準(zhǔn)燈參考輻射定標(biāo) 電致發(fā)光系統(tǒng) 常規(guī)發(fā)射光譜系統(tǒng) 共聚焦拉曼光譜儀

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　　光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、光電器件、太陽能電池等領(lǐng)域。

　　主要原理：

　　光電流測試的原理是利用光照射器件或材料后，通過測量器件或材料的電流輸出來判斷其光電性能。測試時，光源會照射在待測試樣品上，產(chǎn)生電子和空穴對并使其發(fā)生光電效應(yīng)，從而產(chǎn)生電流輸出。根據(jù)電流輸出的大小和特征，可以判斷樣品的光電性能和特性參數(shù)。

光電流測試

　　主要步驟：

　　(1)準(zhǔn)備測試樣品：準(zhǔn)備待測試的器件或材料，并將其放置在測試臺上。

　　(2)設(shè)置測試條件：根據(jù)測試要求，設(shè)置光源的光強、波長、照射時間等測試條件。

　　(3)進(jìn)行測試：打開光源，照射待測試樣品，記錄測試數(shù)據(jù)。

　　(4)分析測試結(jié)果：根據(jù)測試數(shù)據(jù)，分析樣品的光電性能和特性參數(shù)，如響應(yīng)時間、量子效率、光電轉(zhuǎn)換效率等。

　　S-LBIC光電流測試簡介

　　• 寬光譜范圍(200~14000nm可選)，適用面廣

　　• 調(diào)制法測量技術(shù)，提升測量結(jié)果信噪比

　　• 開機即用的Turnkey系統(tǒng)設(shè)計，維護(hù)簡單

　　• 監(jiān)視光路，方便樣品定位

　　• 全反射光路設(shè)計，優(yōu)化光斑質(zhì)量

　　• 高穩(wěn)定性光源，降低背景噪聲影響

　　• 標(biāo)準(zhǔn)測量軟件，數(shù)據(jù)導(dǎo)出格式支持第三方軟件

　　光電流測試應(yīng)用領(lǐng)域：

　　• 二維材料，太陽能電池，納米光子學(xué)，光電器件，PN結(jié)器件…

　　特點：

　　• 微米級空間分辨率

　　• 連續(xù)/脈沖激光可選

　　• 波長連續(xù)可調(diào)的超連續(xù)譜光源可選

　　• nA、pA、fA不同精度的源表可選

　　• 可以測量不同偏壓下的光電流圖像/光譜響應(yīng)度

S-LBIC顯微光電流成像系統(tǒng)

　　主要應(yīng)用：

　　(1)半導(dǎo)體器件測試：光電流測試主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件的測試和分析，如光電二極管、光敏電阻等。

　　(2)光電器件測試：該測試方法還可以用于光電器件的測試和分析，如太陽能電池、光伏發(fā)電系統(tǒng)等。

　　(3)材料研究：光電流測試還可以應(yīng)用于材料的研究，如光敏材料、半導(dǎo)體材料等的光電性能測試。

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產(chǎn)品簡介 光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、光電器件、太陽能電池等領(lǐng)域。

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